半导体及材料测试

半导体材料的突破带来了一场技术革命,引领了尖端新器件的研发。3DFlash存储器、人工智能芯片、MEMS/sensor芯片、GaN/SiC功率半导体器件等前所未有的应用推动着半导体产业的发展。

二极管 / 晶体管 / 场效应管 IV曲线测试

半导体应用案例
二极管IV曲线测试
IV曲线测试

DC到DC转换器测试

半导体应用案例
DC到DC转换器测试

SMUs可以让用户灵活地同时提供和测量电流和电压。VOUT端子上的电流源使得用户能够改变负载。 通过使用两条通道,吉时利SMU进一步简化了测试,因为用户只需要对一台仪器编程。


IGBT/power nMOSFET等大功率器件测试

半导体应用案例
大功率器件测试

典型参数

  • 击穿电压(Bvdss, Bvceo)
  • 开态电流(Vdson, Vcesat, Vf)
  • 漏极/集电极泄漏(Idss, Ir/Icbo,Iceo)
  • 阈值或截止电压(Vth, Vf, Vbeon)
  • 基极泄漏(Igss, Ib)
  • 正向传输(yfs, Gfs, Hfe, gain)
  • 电容 (Ciss, Coss, Crss)
配置选型指南
型号1 集电极/漏极电源2 阶跃发生器 基极/栅极 电源 辅助 电源
高压 模式 高流 模式
低功率 2600-PCT-1B 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A N/A
高流 2600-PCT-2B 200 V/10 A 40 V/50 A 200 V/10 A 200 V/10 A
高压 2600-PCT-3B 3 kV/120 mA 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A
高流和高压 2600-PCT-4B 3 kV/120 mA 40 V/50 A 200 V/10 A 200 V/10 A
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